信息來源: 時間:2020-10-26
MOS管的頻率在工作頻率增高到一定值以后,它的特性就將隨著頻率的增高而變壞。大家知道,MOS管的溝道區隔著絕緣的氧化層,在這一氧化層上面覆蓋著金屬柵電極,于是就形成了以氧化物為介質的平板電容器,稱為柵電容,用符號表示。如果在某一時刻輸入信號的變化使增加時,溝道中感生的載流子將增多。這些感生載流子的增多過程也就是柵電容的充電過程。充電是通過MOS管的通導電阻進行的,其充電時間常數為而當VG減小時,就要通過放電。
當輸入信號的周期比柵電容通過充放電的時間常數長很多時(低頻情況),柵電容的充放電過程就進行得很充分,輸出信號就完全能夠跟上輸入信號的變化。MOS管的頻率。這時,MOS管的放大性能將不會受到影響。但是,當輸入信號的周期比柵電容充放電的時間常數還小,也就是輸入信號的角頻率比MOS管的固有頻率高時,即。這樣,柵電容的充放電過程就進行得不夠充分,輸出信號就不能完全跟上輸入信號的變化。此時,MOS管的放大特性就要變壞。
當輸入信號的角頻率時,我們定義這時的頻率為MOS管的最高頻率,用fm表示。
由于,上式可改寫為:
式中為平行板電容器電容,可近似地寫成。為單位面積氧化層電容。A為柵下面的溝道面積。于是可寫成:
再把代入(1-68)式得:
這就是MOS管的最高工作頻率表達式。這里的是用氧化層電容代入的,實際的將隨VGS的變化而改變其大小。
從(1-69)式中看到,MOS管的頻率,MOS管的最高頻率,與溝道長度的平方成反比??梢?,要提高MOS管的最高頻率,溝道長度L就必須設計得短一點。另外,與成正比。由于電子遷移率比空穴遷移率大,所以在其它條件相同的情況下,N溝道MOS管的高頻性能要比P型溝道MOS管要好。為了對有一個定量的概念,下面舉一個例子。
若某一N溝道MOS器件的可算得:
這是一個頻率相當高的器件。實際上,MOS管的頻率,在MOS電路里的管,其最高頻率最少也要低2~3個數量級。這是因為存在許多寄生電容。其中有金屬柵與源極擴散區交迭造成的柵源覆蓋電容(還包括引線間的分布電容)、柵和漏之間的附加寄生電容;另外還有漏極與P型基片間的PN結電容和其他寄生電容,將構成漏和源間的附加寄生電容。這些電容附加到MOS管之上(如圖1-34),將使器件頻率特性進一步變壞。
在MOS集成電路里,除了MOS管的電容外,還有其他圖1-35 MOS管的一些寄生電容,在電路中起很大作用。這是MOS集成電路速度低謝加密生電容的原因所在。圖1-35表示MOS集成電路中各類寄生電容示意圖,其中:
MOS溝道電容;
PN結電容;
:金屬覆蓋氧化層電容;
金屬一薄氧化層-N區電容;
金屬-厚氧化層-N區電容。
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