信息來源: 時間:2020-11-25
在MOS電路的發展過程中,發展最早、最快的是PMOS集成電路,PMOS電路的生產基本上是硅平面工藝,通常稱為MOS常規工藝,它具有工藝簡單,設備不復雜、易于控制等優點。但PMOS電路存在著速度太低的突出缺點,對發展速度高、性能好的MOS 大規模集成電路帶來很大困難。PMOS工藝。為了提高電路速度和性能,科學家們對MOS 工藝進行了一系列的革新。采用了一些新材料和工藝。例如采用具有高遷移率的半導體材料,發展了NMOS和GaAsNOS集成電路;為了減小柵源、柵漏電容,發展了柵自對準MOS工藝;在絕緣柵介質方面,采用了較之SiO2,性能更佳的Si3N4、Al2O3,等絕緣薄膜;器件的柵電極除了用大家熟知的鋁柵以外,又發展了硅粗、鋁柵;在源、漏的形成及調節器件閾值電壓大小、正負等方面,采用了離子注入技術。PMOS工藝。這樣就使MOS集成電路工藝大大超出了硅平面工藝的范圍,顯示了MOS工藝的新特點。本章主要介紹NNOS:CMOS工藝及這些工藝中采用的一些新工藝和新技術。
N溝道工藝是MOS電路較早就選擇工藝,因為理論上電子遷移率大得多,可以制成大跨導的MOS器件。NMOS工藝。但由于Si-SiO2界面處存在正電荷,往往容易造成N溝道耗盡型,而要制成N溝道增強型卻比較困難。因此,早期的發展速度不如PMOS電路,但終因它有突出的優點,隨著MOS技術的發展,目前速度較高的大規模 MOS集成電路中,NMOS已占重要的地位。
NMOS電路的優點很多,大致可歸納以下三點:
MOS集成電路的開關速度,與器件充放電等效時間常數有關。若小,電路的速度就快,從第二章倒相器開關響應的討論中知道;
其中。因為電子的遷移率約為空穴遷移率的三倍,若其它參數相同,則應為的三倍,所以是的1/3,可見N溝道MOS器件對電容的充放電速度比P溝道MOS器件快,所以電路的開溝道MOS器件快,所以電路的開關速度高。
由于SiO2中存在著正電荷,容易產生N溝道耗盡型,但可采取一定措施,使VT從負值向正值方向移動,以獲得較小的正VT值。NMOS工藝。所以N溝道增強型器件的閾值電壓必然是比較低的,從而可以在低電源下工作,一方面可以降低功耗,另一方面可直接與雙極型TTL電路兼容。
由于電子遷移率高于空穴遷移率,若取,則性能相同的電路,N溝道器件可獲得較小的設計尺寸,從而使電路有較高的集成度,有利降低成本。
要制造N溝道增強型器件,必須創造一定條件,采用一定的方法來控制閾值電壓。NMOS工藝。下面討論實現N溝道增強型器件的條件與方法。
前面討論知道,要實現N溝道增強型器件,必須滿足:
經過移項,得到:
(6-1)
這是實現N溝道增強型器件的襯底摻雜電荷的下限。
為了獲得最低的表面態密度,我們采用〈100〉方向的P型Si單晶,控制在。
對于典型摻雜濃度,可以估算出功函數差與強反型表面勢之和為。
若
將上述數據代入(6-1)式,得:
根據,可算得:
,材料的電阻率必須小于4Ω·cm。
如果要得到閾值電壓的增強型器件,可根據VT表達式,算出:
可見,要實現N溝道增強型器件,采用高濃度的P型襯底是一個可行的方法。NMOS工藝。然而要使,取,即的P型Si,這樣高濃度的襯底材料,所對應的柵調制擊穿電壓只有10V,是比較低的。
從第一章中知道,當源極與襯底之間加偏置電壓以后,可以使MOS器件產生一個附加閾值電壓。NMOS工藝。由附加閾值電壓表達式知道,影響有三個因素,即,和。因此,只要加一個較大的,就可使,并且還可以適當降低和,以提高和速度。
圖6-2表明N溝道器件有效和背面柵偏壓的關系。
曲線(A)表示襯底的摻雜濃度(合理的耐壓)、(時的起始值)的情況。
曲線(B)表示,其余條件與(A)相同。
曲線(A’)為預先加(其余條件與(A)相同),時的情況。實際是把曲線(A)向左平移1V,即得到(A’)。
如果起始的N溝道器件,施加的偏壓,有效的可達5V??梢娛┘?img src="/userfiles/images/2020/11/25/2020112516405921.png" title="image.png" alt="image.png"/>對控制N溝道有明顯的作用。NMOS工藝。在實際電路中,為了獲得一個合理的,需要施加一個額外的電源,因此使用不如單一電源的方便。
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